用表面磁光克爾原理測量薄膜材料的磁性參數(shù)

以表面磁光克爾原理為機理,測量薄膜材料的磁性參數(shù),實驗上求得了飽和狀態(tài)下坡莫合金的克爾偏轉角,并測出了其磁滯回線.

作 者： 祁建霞 QI Jian-xia   作者單位： 西安郵電學院,應用數(shù)學與應用物理系,陜西,西安,710121  刊 名： 大學物理  PKU 英文刊名： COLLEGE PHYSICS  年，卷(期)： 2009 28(9)  分類號： O441.6  關鍵詞： 表面磁光克爾效應   磁滯回線   克爾旋轉角  

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