曲面EBG結(jié)構(gòu)帶隙特性的研究

利用光學Bragg反射條件,設(shè)計了一種曲面電磁帶隙結(jié)構(gòu).采用懸置微帶線法,分析了其結(jié)構(gòu)參數(shù)以及圓柱結(jié)構(gòu)參數(shù)對帶隙特性的影響.結(jié)果表明,結(jié)構(gòu)參數(shù)對表面波帶隙影響的規(guī)律與平面上一致,圓柱曲率對表面波帶隙的影響不是太大,只是帶隙中心頻率略有下降.這一結(jié)論對在曲面共形天線上應(yīng)用電磁帶隙結(jié)構(gòu)提高天線性能有重要的指導意義.

作 者： 劉濤 曹祥玉 殷兆偉 張廣 LIU Tao CAO Xiang-yu YIN Zhao-wei ZHANG Guang   作者單位： 空軍工程大學,電訊工程學院,西安,710077  刊 名： 微波學報  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF MICROWAVES  年，卷(期)： 2007 23(5)  分類號： O4  關(guān)鍵詞： 曲面   電磁帶隙   帶隙特性   結(jié)構(gòu)參數(shù)  

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